1.0中國探針股份有限公司https://wp.ccpcontactprobes.com/en/rich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="fJOThZFxl2"><a href="https://wp.ccpcontactprobes.com/en/test-solutions/introduction-testing-solution/">IC & ICT 技術介紹</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://wp.ccpcontactprobes.com/en/test-solutions/introduction-testing-solution/embed/#?secret=fJOThZFxl2" width="600" height="338" title="“IC & ICT 技術介紹” — 中國探針股份有限公司" data-secret="fJOThZFxl2" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script> /*! This file is auto-generated */ !function(d,l){"use strict";l.querySelector&&d.addEventListener&&"undefined"!=typeof URL&&(d.wp=d.wp||{},d.wp.receiveEmbedMessage||(d.wp.receiveEmbedMessage=function(e){var t=e.data;if((t||t.secret||t.message||t.value)&&!/[^a-zA-Z0-9]/.test(t.secret)){for(var s,r,n,a=l.querySelectorAll('iframe[data-secret="'+t.secret+'"]'),o=l.querySelectorAll('blockquote[data-secret="'+t.secret+'"]'),c=new RegExp("^https?:$","i"),i=0;i<o.length;i++)o[i].style.display="none";for(i=0;i<a.length;i++)s=a[i],e.source===s.contentWindow&&(s.removeAttribute("style"),"height"===t.message?(1e3<(r=parseInt(t.value,10))?r=1e3:~~r<200&&(r=200),s.height=r):"link"===t.message&&(r=new URL(s.getAttribute("src")),n=new URL(t.value),c.test(n.protocol))&&n.host===r.host&&l.activeElement===s&&(d.top.location.href=t.value))}},d.addEventListener("message",d.wp.receiveEmbedMessage,!1),l.addEventListener("DOMContentLoaded",function(){for(var e,t,s=l.querySelectorAll("iframe.wp-embedded-content"),r=0;r<s.length;r++)(t=(e=s[r]).getAttribute("data-secret"))||(t=Math.random().toString(36).substring(2,12),e.src+="#?secret="+t,e.setAttribute("data-secret",t)),e.contentWindow.postMessage({message:"ready",secret:t},"*")},!1)))}(window,document); //# sourceURL=https://wp.ccpcontactprobes.com/wp-includes/js/wp-embed.min.js </script> 首頁/測試解決方案/技術介紹 IC & ICT Technology Introduction IC / ICT 測試探針技術介紹 CCP 提供全方位的測試探針解決方案，涵蓋極小間距設計、高頻測試、專利鏡面處理技術，服務 Intel、Skyworks、SPIL 等半導體產業領導廠商。 返回測試解決方案 Pitch Capability · IC Testing 極小間距探針設計 我們提供間距小於 0.12mm 的彈簧探針，研發並製造生產所有類型的測試治具。 IC測試治具間距 我們研發並製造生產所有類型的測試治具 QFN 方形扁平式封裝 方形扁平無引腳封裝 BGA 球柵陣列封裝 PoP 層疊封裝技術 晶圓級芯片封裝 其他種類 High Frequency · RF Testing 高達 77GHz 測試治具 頻寬增加需要越來越高的頻率，隨著 5G 時代的到來，超過 40GHz 的頻率需要強大而可靠的測試解決方案。 77GHz 最高支援測試頻率 40GHz+ 5G 應用覆蓋頻率範圍 0.12mm 最小可支援探針間距 […]https://wp.ccpcontactprobes.com/wp-content/uploads/2026/04/Probe-Pitch-Capability.svg