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Panel Test Solutions

面板测试方案

CCP 提供适用 LCD / OLED 面板的专用测试弹簧针,最小间距 0.45mm,支持 50″~85″ 面板尺寸。D 型锥形针头可穿透氧化层且不留刮痕,探针寿命 >200,000 次。

0.45mm

最小间距

85"

最大支持面板

200K+

探针寿命(次)

Panel Test Solutions

面板测试方案

大多数电子装置使用显示面板与用户互动,面板脆弱的特性需要特殊测试方案。CCP 提供可客制化针头的弹簧针,特殊圆头设计保护面板不受刮伤。通常建议 D 型针头以消除刮痕风险,间距最小 0.45mm,支持 50″~85″ 面板尺寸。

LCD / OLED 面板

最小间距 0.45mm

50″~85″ 面板

Pin Head Types

三种针头类型

B TYPE

B 型(圆头)

圆头设计直接接触面板,防止刮伤面板表面。

E TYPE

E 型

适用特定面板接触需求,提供多样化接触选项。

✦ 推荐

D TYPE

D 型(锥形)

锥形针头可穿透氧化层,且不易在面板留下刮痕。面板测试首选。

Specifications

产品规格

规格项目 数值
最小间距 0.45 mm
支持面板尺寸 50″~85″
Housing 材料 Peek
探针寿命 >200,000 次
推荐针头类型 D 型(锥形,防刮伤)

Applications

主要应用场景

PANEL TESTING

LCD / OLED 面板测试

专为面板测试设计的弹簧针,特殊圆头 / 锥形针头保护脆弱面板表面不受刮伤,支持 50″~85″ 各种尺寸面板。

D 型锥形针头穿透氧化层不留刮痕

支持 50″~85″ 面板尺寸

最小间距 0.45mm

DISPLAY MODULE

显示模组接触测试

治具安装在测试头上直接接触面板,圆头设计防止刮伤面板表面,Housing 采用 Peek 材料,探针寿命 >200,000 次。

Housing 安装于测试头直接接触面板

Peek 材料确保尺寸稳定性

探针寿命 >200,000 次

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