首頁 產品 測試解決方案 面板測試方案

Panel Test Solutions

面板測試方案

CCP 提供適用 LCD / OLED 面板的專用測試彈簧針,最小間距 0.45mm,支援 50″~85″ 面板尺寸。D 型錐形針頭可穿透氧化層且不留刮痕,探針壽命 >200,000 次。

0.45mm

最小間距

85"

最大支援面板

200K+

探針壽命(次)

Panel Test Solutions

面板測試方案

大多數電子裝置使用顯示面板與使用者互動,面板脆弱的特性需要特殊測試方案。CCP 提供可客製化針頭的彈簧針,特殊圓頭設計保護面板不受刮傷。通常建議 D 型針頭以消除刮痕風險,間距最小 0.45mm,支援 50″~85″ 面板尺寸。

LCD / OLED 面板

最小間距 0.45mm

50″~85″ 面板

Pin Head Types

三種針頭類型

B TYPE

B 型(圓頭)

圓頭設計直接接觸面板,防止刮傷面板表面。

E TYPE

E 型

適用特定面板接觸需求,提供多樣化接觸選項。

✦ 推薦

D TYPE

D 型(錐形)

錐形針頭可穿透氧化層,且不易在面板留下刮痕。面板測試首選。

Specifications

產品規格

規格項目數值
最小間距0.45 mm
支援面板尺寸50″~85″
Housing 材料Peek
探針壽命>200,000 次
推薦針頭類型D 型(錐形,防刮傷)

Applications

主要應用場景

PANEL TESTING

LCD / OLED 面板測試

專為面板測試設計的彈簧針,特殊圓頭 / 錐形針頭保護脆弱面板表面不受刮傷,支援 50″~85″ 各種尺寸面板。

D 型錐形針頭穿透氧化層不留刮痕

支援 50″~85″ 面板尺寸

最小間距 0.45mm

DISPLAY MODULE

顯示模組接觸測試

治具安裝在測試頭上直接接觸面板,圓頭設計防止刮傷面板表面,Housing 採用 Peek 材料,探針壽命 >200,000 次。

Housing 安裝於測試頭直接接觸面板

Peek 材料確保尺寸穩定性

探針壽命 >200,000 次

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