C.C.P. 中探针提供全方位的测试解决方案，从极细 IC 探针、老化测试、晶圆级封装测试到 PCB 测试探针，
富士康、Intel、Skyworks 和 SPIL 等半导体产业领导者皆是我们的客户。
中探针深耕半导体测试探针领域逾三十年，拥有从 0.07mm 极细 IC 探针到大电流测试方案的完整产品线。我们的工程师与客户紧密合作，提供标准化与全客制化两种选择，让测试方案精准符合您的需求。
服务客户包含：Foxconn・Intel・Skyworks・SPIL 等半导体产业领导者
Group A · IC Testing
IC 测试探针可适用 0.12mm 的极小间距，提供 80 种以上设计，满足各类半导体封装测试需求。
80+设计款式
0.12mm最小间距
Group B · PCB Testing
适用于各式 PCB 测试，拥有 70 种设计，标准化产品之外亦提供客制化设计，满足复杂测试需求。
70+设计款式
客制化可接受
Battery Testing
提供 30 种以上不同规格的大电流电池测试探针，针对各种电池类型与测试环境设计。
30+设计款式
大电流设计
WLCSP Testing
最小间距 0.12mm，中探针研发设计独特专属的晶圆级测试方案，适用最先进封装制程。
RF / High-Frequency
中探针专利高频测试方案，采用同轴探针设计及加压导电橡胶治具，支持频率高达 77 GHz。
≤ 77 GHz最高频率
专利设计
High Current IC
专利探针设计可承载超过 5A 的极高电流，适合高功率元件与电源 IC 的严苛测试环境。
> 5A额定电流
Burn-In Testing
客制化老化测试治具，可承受高达 180°C 的极端温度，适用各类 IC 元件寿命验证。
≤ 180°C工作温度
客制化治具
Memory Testing
针对 RAM、DDR、快闪内存等各类内存晶片，提供标准化及客制化测试解决方案。
DDR / RAM
FlashMemory
Kelvin Contact
专为低电阻精密测试设计，提供 0.07～0.1mm 探针，多种尖端类型可选，确保量测精准度。
0.07mm最小间距
低电阻测试
Fine Pitch Connector
陶瓷 / 铝制治具，间距最小可达 0.3mm，使用寿命长达 30,000 个循环，耐用可靠。
≤ 0.3mm最小间距
30,000次寿命
General Final Test
中探针研发设计并制造测试治具，提供从单一零件到完整系统的终端测试整合方案。
ATE Connection
弹簧探针塔与四角 PIN 针座，具备高频功能，适用自动化测试设备的客制化链接解决方案。
Panel Testing
最小间距 0.45mm，中探针提供特殊探针及测试模组，适用各类显示面板的精密测试需求。
0.45mm最小间距
Pogo Pin Connectors单针・多针・防水・磁吸
Female Connectors车削单针・防水・客制化
High Current Connectors高电流传输应用
DAC Network CablesSFP・QSFP・OCuLink
Magnesium Alloy压铸・挤型・耐腐蚀高导热
C.C.P. 提供各式各样的测试治具和探针。您有特殊需求或需要全新设计吗？我们的专业工程师等待着您的挑战，超过 20,000 种连接器选型与客制化方案。
