Главная›Продукция›Решения для тестирования
Testing Solutions

ТестированиеРешения

C.C.P. China Contact Probes предлагает всесторонние решения для тестирования, От сверхтонкого IC Щуп, Испытание на старение, От тестирования на уровне пластины и корпусирования до PCB Тестовые щупы,

Foxconn, Intel, Skyworks и SPIL и другие лидеры полупроводниковой отрасли являются нашими клиентами.

About Testing Solutions

в области тестирования полупроводников
Профессиональные технологии и возможности

China Contact Probes более 30 лет работает в области щупов для тестирования полупроводников, Имеет от 0.07mm Сверхтонкий IC от щупов до решений для тестирования сильного тока — полная линейка продукции. Наши инженеры тесно сотрудничают с клиентами, Предлагаем стандартизированные и полностью индивидуальные варианты, Решение для тестирования точно соответствует вашим требованиям.

Среди наших клиентов: Foxconn・Intel・Skyworks・SPIL и другие лидеры полупроводниковой отрасли

Standard Test Probes

Стандартные тестовые щупы

Group A · IC Testing

IC Тестовые щупы

IC Тестовые щупы подходят для 0.12mm со сверхмалым шагом, Предлагает 80 видов дизайна и более, Удовлетворяет требованиям тестирования различных типов корпусирования полупроводников.

80+Варианты дизайна

0.12mmМинимальный шаг

Group B · PCB Testing

ICT Тестовые щупы

Подходит для различных PCB Тестирование, Обладает 70 видов дизайна, Помимо стандартизированной продукции также предлагаем индивидуальный дизайн, Удовлетворяет сложным требованиям тестирования.

70+Варианты дизайна

Индивидуальная настройкаПриемлемый

Battery Testing

Щупы для тестирования батарей

Предлагает 30 видов щупов для тестирования батарей с сильным током разных спецификаций, Разработано для различных типов батарей и условий тестирования.

30+Варианты дизайна

Сильный токДизайн

Advanced Solutions

Продвинутое решение для тестирования

WLCSP Testing

Тестирование на уровне пластины и корпусирования

Минимальный шаг 0.12mm, China Contact Probes разрабатывает уникальные решения для тестирования на уровне пластины, Подходит для самых передовых технологий корпусирования.

0.12mmМинимальный шаг

RF / High-Frequency

Высокая частота (Радиочастота) Решение для тестирования

Запатентованное высокочастотное решение для тестирования от China Contact Probes, Используется конструкция коаксиального щупа и оснастка с токопроводящей резиной под давлением, Поддержка частоты до 77 GHz.

≤ 77 GHzМаксимальная частота

ПатентДизайн

High Current IC

Высокий ток IC Тестирование

Запатентованная конструкция щупа выдерживает более 5A сверхвысокого тока, Подходит для мощных компонентов и источников питания IC в жестких условиях тестирования.

> 5AНоминальный ток

ПатентДизайн

Specialized Testing

Специальное решение для тестирования

Burn-In Testing

Решение для испытаний на старение

Индивидуальная оснастка для испытаний на старение, выдерживает до 180°C экстремальной температуры, Подходит для различных IC Проверка срока службы компонентов.

≤ 180°CРабочая температура

Индивидуальная настройкаОснастка

Memory Testing

Тестирование памяти

Для RAM, DDR, флэш-память и другие виды чипов памяти, Предлагаем стандартизированные и индивидуальные решения для тестирования.

DDR / RAM

FlashMemory

Kelvin Contact

Тестирование по методу Кельвина

Разработано специально для точного тестирования низкого сопротивления, Предлагает 0.07–0.1mm Щуп, Доступны различные типы наконечников, Обеспечивает точность измерений.

0.07mmМинимальный шаг

Низкое сопротивлениеТестирование

Fine Pitch Connector

Тестирование разъемов со сверхмалым шагом

Керамика / Алюминиевая оснастка, Минимальный шаг до 0.3mm, Срок службы до 30,000 циклов, Долговечность и надежность.

≤ 0.3mmМинимальный шаг

30,000циклов службы

More Solutions

Другие решения для тестирования

General Final Test

Обычное конечное тестирование

China Contact Probes разрабатывает, проектирует и производит тестовую оснастку, Предлагаем интегрированные решения конечного тестирования от отдельных компонентов до полных систем.

ATE Connection

Решения для подключения автоматизированного оборудования

Пружинные зонды-башни и четырехточечные PIN Гнездо контакта, Обладает высокочастотной функцией, Индивидуальные решения для подключения автоматизированного тестового оборудования.

Panel Testing

Решение для тестирования панелей

Минимальный шаг 0.45mm, China Contact Probes предлагает специальные щупы и тестовые модули, Для точного тестирования различных дисплейных панелей.

0.45mmМинимальный шаг

Other Product Lines

Другие продуктовые линейки

Не нашли нужное решение для тестирования??

C.C.P. Предлагаем широкий спектр тестовой оснастки и щупов. Есть особые требования или нужна совершенно новая разработка??
Наши профессиональные инженеры готовы принять ваш вызов, Более 20,000 видов разъемов на выбор и индивидуальные решения.

Thank you for your interest — download below

Thank you for your interest — download below