ICT Test Probes
Подпружиненные зонды для внутрисхемного контроля печатных плат (ICT). Доступны обычные зонды, плунжеры, внешние втулки и другие исполнения — под любые требования к конструкции испытательной оснастки.





No matching probes under current filters. Please adjust the filters.
After submitting, you can directly download all 2D drawings and 3D CAD files