C.C.P. предлагает полный спектр решений для контактного тестирования: конструкции с предельно малым шагом, высокочастотные испытания и запатентованная технология зеркальной обработки наконечника. Среди заказчиков — лидеры полупроводниковой отрасли: Intel, Skyworks, SPIL и другие.
Pitch Capability · IC Testing
Мы выпускаем подпружиненные зонды с шагом менее 0,12 мм и разрабатываем и производим испытательную оснастку всех типов.
Мы разрабатываем и производим испытательную оснастку всех типов
High Frequency · RF Testing
Рост полосы пропускания требует всё более высоких частот. С приходом эпохи 5G для диапазонов выше 40 ГГц нужны надёжные и стабильные решения для тестирования.
Максимальная частота тестирования
Покрываемый диапазон для 5G
Минимальный поддерживаемый шаг зондов
Patent Technology · Mirror Process
В ходе тестирования на кончике зонда постепенно накапливается припойная пыль, что снижает проводимость. Запатентованная технология зеркальной обработки C.C.P. делает поверхность наконечника гладкой как зеркало, и пыль на ней не задерживается.
Реже требуется чистка — меньше простоев тестового оборудования
Износостойкость выше на 50 %
Более высокая эффективность передачи сигнала
Innovation · We Care
Мы владеем полным технологическим циклом: все зонды и оснастка разрабатываются и изготавливаются самой C.C.P. и проходят строгий сплошной контроль качества, чтобы соответствовать вашим требованиям.
C.C.P. ежегодно инвестирует более 10 % выручки в исследования и разработку — так наши продукты остаются на переднем крае технологий.
В нашей команде разработки много опытных инженеров с более чем 30-летним стажем в тестировании полупроводников. Эти усилия направлены на то, чтобы найти решение именно для вашей задачи.
Инвестиции в R&D 10%+
Опыт инженеров 30+ лет
Selected Customers
Foxconn, Intel, Skyworks, SPIL и другие лидеры полупроводниковой отрасли — многолетние партнёры C.C.P.
Applications
Зонды IC применяются при тестировании полупроводниковых корпусов, зонды ICT — при контроле печатных плат. Это разные этапы тестирования, и типы подбираются отдельно.
Find Products
Определив область применения, перейдите на страницу поиска и отфильтруйте модели по длине, наружному диаметру, форме наконечника и другим параметрам.
Group A · IC Testing
80+ исполнений, минимальный шаг 0,12 мм, поддержка корпусов QFN / BGA / WLCSP. Фильтр по конструкции, длине и форме наконечника DUT.
Group B · PCB Testing
70+ исполнений для любых задач контроля печатных плат; помимо стандартных доступны и заказные конструкции. Фильтр по длине, наружному диаметру и форме наконечника.
Инженеры C.C.P. имеют более 30 лет опыта в тестировании полупроводников и помогут подобрать оптимальную конструкцию зонда или разработать решение под заказ.
