C.C.P. 中探針提供全方位的測試解決方案，從極細 IC 探針、老化測試、晶圓級封裝測試到 PCB 測試探針，富士康、Intel、Skyworks 和 SPIL 等半導體產業領導者皆是我們的客戶。
中探針深耕半導體測試探針領域逾三十年，擁有從 0.07mm 極細 IC 探針到大電流測試方案的完整產品線。我們的工程師與客戶緊密合作，提供標準化與全客製化兩種選擇，讓測試方案精準符合您的需求。
服務客戶包含：Foxconn・Intel・Skyworks・SPIL 等半導體產業領導者
Group A · IC Testing
IC 測試探針可適用 0.12mm 的極小間距，提供 80 種以上設計，滿足各類半導體封裝測試需求。
80+設計款式
0.12mm最小間距
Group B · PCB Testing
適用於各式 PCB 測試，擁有 70 種設計，標準化產品之外亦提供客製化設計，滿足複雜測試需求。
70+設計款式
客製化可接受
Battery Testing
提供 30 種以上不同規格的大電流電池測試探針，針對各種電池類型與測試環境設計。
30+設計款式
大電流設計
WLCSP Testing
最小間距 0.12mm，中探針研發設計獨特專屬的晶圓級測試方案，適用最先進封裝製程。
RF / High-Frequency
中探針專利高頻測試方案，採用同軸探針設計及加壓導電橡膠治具，支援頻率高達 77 GHz。
≤ 77 GHz最高頻率
專利設計
High Current IC
專利探針設計可承載超過 5A 的極高電流，適合高功率元件與電源 IC 的嚴苛測試環境。
> 5A額定電流
Burn-In Testing
客製化老化測試治具，可承受高達 180°C 的極端溫度，適用各類 IC 元件壽命驗證。
≤ 180°C工作溫度
客製化治具
Memory Testing
針對 RAM、DDR、快閃記憶體等各類記憶體晶片，提供標準化及客製化測試解決方案。
DDR / RAM
FlashMemory
Kelvin Contact
專為低電阻精密測試設計，提供 0.07～0.1mm 探針，多種尖端類型可選，確保量測精準度。
0.07mm最小間距
低電阻測試
Fine Pitch Connector
陶瓷 / 鋁製治具，間距最小可達 0.3mm，使用壽命長達 30,000 個循環，耐用可靠。
≤ 0.3mm最小間距
30,000次壽命
General Final Test
中探針研發設計並製造測試治具，提供從單一零件到完整系統的終端測試整合方案。
ATE Connection
彈簧探針塔與四角 PIN 針座，具備高頻功能，適用自動化測試設備的客製化連結解決方案。
Panel Testing
最小間距 0.45mm，中探針提供特殊探針及測試模組，適用各類顯示面板的精密測試需求。
0.45mm最小間距
Pogo Pin Connectors單針・多針・防水・磁吸
Female Connectors車削單針・防水・客製化
High Current Connectors高電流傳輸應用
DAC Network CablesSFP・QSFP・OCuLink
Magnesium Alloy壓鑄・擠型・耐腐蝕高導熱
CCP 提供各式各樣的測試治具和探針。您有特殊需求或需要全新設計嗎？我們的專業工程師等待著您的挑戰，超過 20,000 種連接器選型與客製化方案。
