插入損耗 -1dB 頻率
特性阻抗
最小間距
High Frequency Solutions
CCP 利用 HFSS 模擬探針在治具中的性能，並在自有高頻實驗室中以 TDR、網路分析儀及 RF 探針台進行實測驗證。可提供同軸探針（Coaxial Probe）設計，適用於 Bluetooth、GPS、LTE、5G 等射頻 IC 測試。
5G / LTE
Bluetooth / GPS
BGA / CSP / QFN
Design Concept
HFSS SIMULATION
利用 HFSS 模擬 S 參數、電感及阻抗，在設計客製化治具前即可選出最佳探針，提升訊號完整性（SI）。
RF LAB VERIFICATION
專屬高頻實驗室配備 TDR、網路分析儀及 RF 探針台，量測治具與探針實際性能，驗證模擬結果。
Specifications
| 規格項目 | 數值 |
|---|---|
| 插入損耗 | -1dB @ >50 GHz（同軸探針） |
| 回波損耗 | -20dB @ >30 GHz |
| 阻抗 | 50 Ω |
| 間距範圍 | 0.65 ~ 1.00 mm |
| 應用封裝 | BGA / CSP / QFN / QFP |
| 適用頻段 | Bluetooth / GPS / LTE / 5G |
Applications
HIGH FREQUENCY TESTING
適用於 5G、LTE、Bluetooth、GPS 等無線 IC 的高頻測試，CCP 同軸探針可達 50GHz 以上，確保精準的訊號量測。
插入損耗 -1dB @ >50 GHz
回波損耗 -20dB @ >30 GHz
適用 Bluetooth / GPS / LTE / 5G / Wi-Fi IC
COAXIAL PROBE
採用同軸探針配合 GSG 排列設計，可應用於高速 BGA、CSP 封裝的高頻功能測試，阻抗 50Ω 設計確保訊號完整性。
同軸設計降低訊號串擾
HFSS 模擬 + 實測雙重驗證
支援 0.65mm 以上間距
