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High Current Solutions

高电流测试解决方案

专利设计的高电流弹簧针,电流直流路径大幅降低接触电阻,适用于电动车电池测试、IC 测试等高电流应用场景,提供可客制化的精密测试解决方案。
Core Technology

为什么选择 CCP 高电流探针?

Standard Pin
一般弹簧针
电流从底部柱塞流过针管壁,再传至顶部柱塞。针管壁与柱塞之间的接触电阻会随使用次数逐渐增加,在高电流下可能导致弹簧烧损。
底部柱塞(Bottom Plunger)
↓ 电流流经针管壁
针管(Barrel Wall)
↓ 绕过弹簧
顶部柱塞(Top Plunger)
⚠ 接触电阻随测试次数增加,高电流下易烧损
VS
CCP High Current Pin · 专利设计
高电流弹簧针
中央直流柱塞让电流取最短路径直达顶部柱塞,完全绕过弹簧,大幅降低接触电阻,显著提升探针使用寿命与可靠性。
底部柱塞(Bottom Plunger)
↓ 电流沿中央直流路径
中央直通柱塞(Center Plunger)
↓ 直达顶端,不经弹簧
顶部柱塞(Top Plunger)
✓ 接触电阻稳定,寿命显著提升
Applications

主要应用场景

Battery Testing
锂电池 / 电动车电池测试

探针接触 PCB,闭合电路并激活锂电池进行测试。特殊设计的接触头确保稳定的大电流传输,适用于电动车(EV)电池模组、电池包及工业蓄电系统的测试需求。

大电流稳定传输,接触电阻低且一致
适用 EV 电池包、电池模组、工业储能系统
可依电池规格客制化接触头形状与尺寸
IC Testing
高电流 IC 测试

采用同轴设计,将感测针与电流测试针整合于单一探针结构中。一体化的电流测试针设计显著改善电气电阻,适用于需要高电流的 IC 功能测试及烧机测试(Burn-in)。

感测针与电流针同轴整合,信号更稳定
一体化设计大幅降低电气电阻
适合 Burn-in 老化测试与高电流功能验证

Coaxial Design · IC Testing

同轴高电流探针
一体化双功能设计

CCP 为 IC 测试开发的同轴高电流探针,将感测针(Sensor Pin)与电流测试针(Current Test Pin)整合在同一探针结构中,电流测试针采一体式设计,电气电阻表现显著优于传统分离式设计。

感测针 + 电流针同轴合一,节省测试空间
一体化电流测试针设计,电气电阻显著降低
适用高电流 IC 功能测试与烧机测试场景
可依 IC 封装规格客制化接触头型式

Probe Structure

顶部柱塞 Top Plunger

│

感测针 Sensor Pin

│

同轴电流针 Current Pin

│

弹簧 Spring(不传电流)

│

底部柱塞 Bottom Plunger

同轴一体化 · 电阻显著降低

Product Features

产品设计特色

专利设计
CCP 持有高电流弹簧针的专利技术,中央直流路径设计为业界独特解决方案,确保电流稳定传输并避免弹簧烧损。
低接触电阻
一体化柱塞设计让电流直达顶端,接触电阻稳定且数值远低于传统设计,确保测试数据的一致性与准确性。
客制化弹性
可依照贵公司的电流需求、接触头形状、尺寸与电镀规格进行全面客制化设计,搭配业界领先的专有电镀技术。

需要高电流测试解决方案?

告诉我们您的应用需求与电流规格,CCP 工程师将为您评估最适合的探针设计与客制化方案。

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