C.C.P. bietet vier Spitzenformen (Blade, Ladder, Half Moon, Crown) mit einem Kelvin Gap von 70 bis 100 µm – für die präzise Messung kleiner Widerstände an QFN-, QFP- und BGA-Gehäusen, bei über 200.000 Zyklen Prüfstiftlebensdauer.
Kelvin Contact Solutions
Die Kelvin-Kontakttechnik geht auf den britischen Physiker Lord Kelvin zurück und dient der Messung von Widerständen unter 1 Ω. Bei C.C.P. erfasst ein Stift den Strom, während der zweite die Spannung abgreift – so entsteht eine präzise Vierleitermessung. Verfügbar sind die Spitzenformen Blade, Ladder, Half Moon und Crown mit einem Kelvin Gap von 0,07 bis 0,1 mm.
QFN / QFP
BGA
Tip Types
BLADE TIP
LADDER TIP
HALF MOON TIP
CROWN TIP
Specifications
| Parameter | Wert |
|---|---|
| IC-Typ | QFN / QFP / BGA |
| IC-Größe | 2×2 bis 20×20 mm² |
| Kleinstes Raster | 0,30 mm |
| Kelvin Gap | 70 bis 100 µm |
| Prüfstiftlebensdauer | >200.000 Zyklen |
Applications
KELVIN CONTACT
LOW RESISTANCE
