插入损耗 -1dB 频率
特性阻抗
最小间距
High Frequency Solutions
CCP 利用 HFSS 模拟探针在治具中的性能，并在自有高频实验室中以 TDR、网络分析仪及 RF 探针台进行实测验证。可提供同轴探针（Coaxial Probe）设计，适用于 Bluetooth、GPS、LTE、5G 等射频 IC 测试。
5G / LTE
Bluetooth / GPS
BGA / CSP / QFN
Design Concept
HFSS SIMULATION
利用 HFSS 模拟 S 参数、电感及阻抗，在设计客制化治具前即可选出最佳探针，提升信号完整性（SI）。
RF LAB VERIFICATION
专属高频实验室配备 TDR、网络分析仪及 RF 探针台，量测治具与探针实际性能，验证模拟结果。
Specifications
| 规格项目 | 数值 |
|---|---|
| 插入损耗 | -1dB @ >50 GHz（同轴探针） |
| 回波损耗 | -20dB @ >30 GHz |
| 阻抗 | 50 Ω |
| 间距范围 | 0.65 ~ 1.00 mm |
| 应用封装 | BGA / CSP / QFN / QFP |
| 适用频段 | Bluetooth / GPS / LTE / 5G |
Applications
HIGH FREQUENCY TESTING
适用于 5G、LTE、Bluetooth、GPS 等无线 IC 的高频测试，CCP 同轴探针可达 50GHz 以上，确保精准的信号量测。
插入损耗 -1dB @ >50 GHz
回波损耗 -20dB @ >30 GHz
适用 Bluetooth / GPS / LTE / 5G / Wi-Fi IC
COAXIAL PROBE
采用同轴探针配合 GSG 排列设计，可应用于高速 BGA、CSP 封装的高频功能测试，阻抗 50Ω 设计确保信号完整性。
同轴设计降低信号串扰
HFSS 模拟 + 实测双重验证
支持 0.65mm 以上间距
