スマートウォッチ向け、スマートリストバンド、AI メガネの充電インターフェース要件，C.C.P.提供極めて低い高さ 1.25mm、低接触抵抗 95mΩ、APT 高耐電解メッキ3つの量産ソリューション。耐汗性を含む、耐塩霧性、化粧品による電解腐食に耐性，ニッケル溶出規制に適合。
Common Challenges
ウェアラブル機器は長時間肌に触れて使われ、搭載スペースも極めて限られるため、充電インターフェースには小型化・低接触抵抗・耐食性という 3 つの厳しい要件が課されます。
スペースが限界まで制約されている
スマートリストバンドの本体厚みは極めて薄い，スマートバンドの本体は極めて薄く、全高 1.25mm 以下で安定した接触力を保ちながら量産できるポゴピンは市場にほとんどありません。
接触抵抗の制御
標準 SUS316F ステンレス鋼の標準の SUS316F ステンレス鋼は接触抵抗が 113.5mΩ で、高効率な急速充電と低発熱の要件を満たせません。また、従来材料ではニッケル溶出規制に適合できません。
汗 / 塩霧腐食
時計やリストバンドは長期間汗にさらされます，時計やバンドは長期間汗にさらされるため、168H 以上の塩水噴霧・人工汗試験に合格する必要があり、腐食によって接触抵抗が劣化してはなりません。
電解腐食（化粧品）
AI メガネやウェアラブル機器は化粧品や汗に長期間さらされます，標準 50μ 金メッキの耐電解性 <1 分，大幅に下回る OEM >60 分の要件。
C.C.P. Capabilities
ウェアラブル機器の充電における 4 つの課題に対し、C.C.P. は自社開発のピン構造、合金材料、専用めっき技術で応えます。
1.25mm 超低高さ
自社開発のピン構造で内部ばね形状を再設計し、C.C.P. 製品ラインナップで最小の量産可能ポゴピン（全高 1.25mm）を実現しました。（全高 1.25mm）。
VH3 低抵抗合金
専用ステンレス合金により、接触力 80g で接触抵抗 95mΩ を実現（SUS316F の 113.5mΩ 比で 16% 低減）。
APT 高耐電解メッキ
Advanced Plating Technology 二重機能メッキ，電解 >60min（標準金メッキ <1min），塩霧 / 汗 >168H。
ウェアラブルの安全コンプライアンス
VH3 材料と APT メッキはすべてニッケル溶出規制に適合，VH3 材料と APT めっきはいずれもニッケル溶出規制に適合しており、ウェアラブル機器 OEM の人体接触安全試験にそのまま合格できます。
Application Positions
スマートウォッチ、スマートバンド、AI メガネ充電ケースにおける C.C.P. ポゴピンの 5 つの重要なインターフェース箇所。いずれも量産済み、または EVT 検証中の製品に対応しています。
VH3 ピンが接触するコンタクトパッド、2 ピン充電レイアウト
HCS01219FM2-32-pin
VH3 合金の低インピーダンス 95mΩ，80g 接触力，量産済み
VH395mΩMP
全高 1.25mm — C.C.P. 製品ラインナップの中で最小の量産可能サイズ Pogo Pin
P10789FP1-31.25mm
2-pin 充電レイアウト，メガネ側と接続する金属接点
P10128PN2-pin
APT メッキ，電解 >60min（標準金メッキ <1min），化粧品腐食への耐性
APT>60minMP
Reference Solutions
C.C.P. のウェアラブル充電用ポゴピン 3 ソリューション。すべての仕様は実測データです。
