C.C.P. verfügt über mehr als 25 Jahre Erfahrung in Entwicklung und Fertigung von Prüfadaptern und Prüfstiften und hat über 300 kundenspezifische Prüfstifte entwickelt. Unterstützt werden BGA-, QFN-, QFP-, LGA- und CSP-Gehäuse mit Rastermaßen von 0,2 bis 2,2 mm bei einer Prüfstiftlebensdauer von über 200.000 Zyklen.
General Final Test
Mit über 25 Jahren Erfahrung in Prüfadaptern und Prüfstiften verbessert C.C.P. Werkstoffe und Prozesse fortlaufend. Entstanden sind über 300 kundenspezifische und 50 Sonderprüfstifte für hohe Ströme, hohe Temperaturen und schnelle Datenübertragung.
BGA
QFN / QFP
LGA / CSP
Pitch Range
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Specifications
| Parameter | Wert |
|---|---|
| IC-Gehäusegröße | 1,5×1,5 bis 38×38 mm² |
| Kleinstes Raster | 0,2 mm |
| Werkstoffe | Torlon 4203 / Torlon 5530 / PEEK / PEEK Ceramic / SCP 5000 |
| Datenrate | 6 / 8 / 12 Gbit/s |
| Prüfstiftlebensdauer | >200.000 Zyklen |
Applications
IC FINAL TEST
HIGH SPEED / HIGH FREQUENCY
