客製化探針款式
最小間距
探針壽命（次）
General Final Test
CCP 擁有超過 25 年的測試治具與探針研發製造經驗，持續改進材料與製程，已開發超過 300 款客製化探針及 50 款特殊探針，可承受高電流、高溫或高頻數據傳輸需求。
BGA
QFN / QFP
LGA / CSP
Pitch Range
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Specifications
| 規格項目 | 數值 |
|---|---|
| IC 封裝尺寸 | 1.5×1.5 ~ 38×38 mm² |
| 最小間距 | 0.2 mm |
| 材料 | Torlon 4203 / Torlon 5530 / PEEK / PEEK Ceramic / SCP 5000 |
| 數據傳輸速率 | 6 / 8 / 12 Gbps |
| 探針壽命 | >200,000 次 |
Applications
IC FINAL TEST
適用 BGA、QFN、QFP、LGA、CSP 等多種封裝，間距範圍 0.2～2.2mm，CCP 可提供各種標準化與客製化測試解決方案。
支援 BGA、QFN、QFP、LGA、CSP 等封裝
間距範圍 0.2mm～2.2mm
探針壽命 >200,000 次，降低維護成本
HIGH SPEED / HIGH FREQUENCY
針對高速數據傳輸 IC（6～12 Gbps），CCP 開發超過 50 款特殊探針，可承受高電流、高溫或高頻數據傳輸，滿足各類特殊需求。
支援 6 / 8 / 12 Gbps 高速數據傳輸
超過 300 款客製化探針可選
自有車削與電鍍廠，快速交期
