IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
3.30 mm, IC Test Probes, 0.51 mm Diameter, 1A, DE4-051EF23-01F0
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IC 測試探針
DE4-051EF23-01F0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE4-051EF23-01F0
Single Active
長度
3.30mm
針管外徑
0.51mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4爪皇冠 (F)
Load Board 頭型
鈍錐型 (E)
彈力
30g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE4-051EF23-01F0 是一款 3.30mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.51mm，額定電流 1A，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度3.30 mm
針管外徑0.51 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
額定電流1A
彈力30 g ±20%
建議行程0.35 mm
全程行程0.55 mm
壽命循環200,000 次
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彈簧力25 g ±20%
直徑0.29 mm
長度5.30 mm

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