Burn-In Test Solutions

Giải pháp kiểm thử lão hóa

Đồ gá kiểm thử lão hóa tùy chỉnh, chịu được nhiệt độ khắc nghiệt lên đến 180°C, thiết kế dạng mô-đun giúp rút ngắn đáng kể thời gian phát triển. Chất liệu mạ đặc biệt WJ3 do C.C.P. tự nghiên cứu phát triển, có thể vận hành ổn định 1.000~3.000 giờ trong môi trường khắc nghiệt.

≤180°C

Nhiệt độ làm việc tối đa

3000hrs

Thời gian kiểm thử tối đa

0.3mm

Khoảng cách nhỏ nhất

Burn-In Test Solutions

Giải pháp kiểm thử lão hóa

Kiểm thử Burn-In đặt DUT trong môi trường khắc nghiệt: nhiệt độ cao 150°C, độ ẩm tương đối 85%, duy trì dòng điện 1A liên tục trong 1.000 giờ. C.C.P. áp dụng thiết kế mô-đun gồm linh kiện tiêu chuẩn + linh kiện gia công tùy chỉnh, giúp rút ngắn đáng kể thời gian phát triển và giảm chi phí khuôn mẫu.

BGA / CSP

QFN / QFP

IC tùy chỉnh

Design Concept

Khái niệm thiết kế mô-đun

STANDARD PART

Linh kiện tiêu chuẩn (đúc chèn)

Được sản xuất bằng công nghệ Insert Molding, là linh kiện quy cách thông dụng, có thể lấy nhanh và giảm chi phí sản xuất.

MACHINING PART

Linh kiện gia công tùy chỉnh (CNC)

Được gia công bằng CNC theo thiết kế IC của khách hàng, có thể tùy chỉnh theo các kích thước IC và cấu hình chân khác nhau.

Chất liệu mạ đặc biệt WJ3

Chất liệu mạ WJ3 do C.C.P. tự nghiên cứu phát triển, có độ cứng cực cao, có thể vận hành ổn định 1.000 giờ trong môi trường nhiệt độ cao 150°C, thậm chí lên đến 3.000 giờ, cung cấp giải pháp đáng tin cậy nhất cho môi trường lão hóa khắc nghiệt nhất trong ngành.

Specifications

Thông số sản phẩm

Hạng mục quy cách Giá trị
Kích thước IC <15×15 mm²
Khoảng cách nhỏ nhất 0.3 mm
Vật liệu vỏ PES (màu đen)
Vật liệu Housing Ultem 2300
Nhiệt độ làm việc -55°C ~ 180°C

Applications

Ứng dụng chính

BURN-IN TESTING

Giải pháp kiểm thử lão hóa

Đồ gá kiểm thử lão hóa tùy chỉnh, chịu được nhiệt độ khắc nghiệt lên đến 180°C, phù hợp xác minh tuổi thọ cho các loại linh kiện IC. Chất liệu mạ đặc biệt WJ3 đảm bảo vận hành ổn định trong thời gian dài.

Chịu được nhiệt độ làm việc lên đến 180°C

Hỗ trợ kiểm thử liên tục 1.000~3.000 giờ

Đồ gá tùy chỉnh theo thiết kế IC, rút ngắn thời gian phát triển

IC RELIABILITY

Xác minh độ tin cậy IC

Phù hợp xác minh độ tin cậy IC cho các loại đóng gói như BGA, QFN, CSP, chất liệu mạ đặc biệt vẫn duy trì hiệu suất điện ổn định trong môi trường khắc nghiệt.

Hỗ trợ nhiều loại đóng gói như BGA / QFN / CSP

Lớp mạ WJ3 độ cứng cao chống mài mòn

Thiết kế mô-đun giảm chi phí công cụ và thời gian phát triển

Không tìm thấy quy cách bạn cần?

C.C.P. cung cấp giải pháp tùy chỉnh. Bạn có yêu cầu đặc biệt? Đội ngũ kỹ sư chuyên nghiệp của chúng tôi luôn sẵn sàng đón nhận thử thách của bạn.

Thank you for your interest — download below

Thank you for your interest — download below