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High Current Solutions

高電流測試解決方案

專利設計的高電流彈簧針,電流直流路徑大幅降低接觸電阻,適用於電動車電池測試、IC 測試等高電流應用場景,提供可客製化的精密測試解決方案。
Core Technology

為什麼選擇 CCP 高電流探針?

Standard Pin
一般彈簧針
電流從底部柱塞流過針管壁,再傳至頂部柱塞。針管壁與柱塞之間的接觸電阻會隨使用次數逐漸增加,在高電流下可能導致彈簧燒損。
底部柱塞(Bottom Plunger)
↓ 電流流經針管壁
針管(Barrel Wall)
↓ 繞過彈簧
頂部柱塞(Top Plunger)
⚠ 接觸電阻隨測試次數增加,高電流下易燒損
VS
CCP High Current Pin · 專利設計
高電流彈簧針
中央直流柱塞讓電流取最短路徑直達頂部柱塞,完全繞過彈簧,大幅降低接觸電阻,顯著提升探針使用壽命與可靠性。
底部柱塞(Bottom Plunger)
↓ 電流沿中央直流路徑
中央直通柱塞(Center Plunger)
↓ 直達頂端,不經彈簧
頂部柱塞(Top Plunger)
✓ 接觸電阻穩定,壽命顯著提升
Applications

主要應用場景

Battery Testing
鋰電池 / 電動車電池測試

探針接觸 PCB,閉合電路並激活鋰電池進行測試。特殊設計的接觸頭確保穩定的大電流傳輸,適用於電動車(EV)電池模組、電池包及工業蓄電系統的測試需求。

大電流穩定傳輸,接觸電阻低且一致
適用 EV 電池包、電池模組、工業儲能系統
可依電池規格客製化接觸頭形狀與尺寸
IC Testing
高電流 IC 測試

採用同軸設計,將感測針與電流測試針整合於單一探針結構中。一體化的電流測試針設計顯著改善電氣電阻,適用於需要高電流的 IC 功能測試及燒機測試(Burn-in)。

感測針與電流針同軸整合,訊號更穩定
一體化設計大幅降低電氣電阻
適合 Burn-in 老化測試與高電流功能驗證

Coaxial Design · IC Testing

同軸高電流探針
一體化雙功能設計

CCP 為 IC 測試開發的同軸高電流探針,將感測針(Sensor Pin)與電流測試針(Current Test Pin)整合在同一探針結構中,電流測試針採一體式設計,電氣電阻表現顯著優於傳統分離式設計。

感測針 + 電流針同軸合一,節省測試空間
一體化電流測試針設計,電氣電阻顯著降低
適用高電流 IC 功能測試與燒機測試場景
可依 IC 封裝規格客製化接觸頭型式

Probe Structure

頂部柱塞 Top Plunger

感測針 Sensor Pin

同軸電流針 Current Pin

彈簧 Spring(不傳電流)

底部柱塞 Bottom Plunger

同軸一體化 · 電阻顯著降低

Product Features

產品設計特色

專利設計
CCP 持有高電流彈簧針的專利技術,中央直流路徑設計為業界獨特解決方案,確保電流穩定傳輸並避免彈簧燒損。
低接觸電阻
一體化柱塞設計讓電流直達頂端,接觸電阻穩定且數值遠低於傳統設計,確保測試數據的一致性與準確性。
客製化彈性
可依照貴公司的電流需求、接觸頭形狀、尺寸與電鍍規格進行全面客製化設計,搭配業界領先的專有電鍍技術。

需要高電流測試解決方案?

告訴我們您的應用需求與電流規格,CCP 工程師將為您評估最適合的探針設計與客製化方案。

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