最小探針間距
針尖類型
探針壽命（次）
Kelvin Contact Solutions
Kelvin 接點技術源自英國物理學家 Lord Kelvin，用於量測低於 1Ω 的電阻。CCP 以一支針感測電流、另一支調整電壓的方式實現精準四線量測，提供 Blade、Ladder、Half Moon、Crown 四種針尖類型，間距 0.07～0.1mm Kelvin Gap。
QFN / QFP
BGA
低電阻量測
Tip Types
BLADE TIP
最常用的凱爾文測試針尖，適合各種一般接觸應用。
LADDER TIP
類似刀片型但定位更精準，適合需要精確接觸位置的應用。
HALF MOON TIP
主要應用於 QFN、QFP 封裝，適合接觸焊墊側面。
CROWN TIP
各爪均可刺入測試區域，製造治具時無需考慮方向，安裝更靈活。
Specifications
| 規格項目 | 數值 |
|---|---|
| IC 類型 | QFN / QFP / BGA |
| IC 尺寸 | 2×2 ~ 20×20 mm² |
| 最小間距 | 0.30 mm |
| Kelvin Gap | 70 ~ 100 μm |
| 探針壽命 | >200,000 次 |
Applications
KELVIN CONTACT
專為低電阻精密測試設計，提供 0.07～0.1mm 探針，多種尖端類型可選，確保量測精準度。
Kelvin Gap 70～100μm，精準接觸球 / 焊墊
支援 QFN、QFP、BGA 等封裝
四種針尖類型滿足不同接觸需求
LOW RESISTANCE
適用於功率元件、MOSFET 等低阻值 IC 的精密量測，四線式設計消除接線電阻誤差，確保量測可靠性。
四線式量測消除接線電阻影響
接觸電阻 <75mΩ（AVG）
電流額定 1A～3A continuous
