IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
2.00 mm, IC Test Probes, 0.35 mm Diameter, DE1-035BE12-01B0
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IC 測試探針
DE1-035BE12-01B0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE1-035BE12-01B0
Double Active
長度
2.00mm
針管外徑
0.35mm
DUT 頭型
尖錐型 (B)
Load Board 頭型
鈍錐型 (E)
彈力
20g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE1-035BE12-01B0 是一款 2.00mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.35mm，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度2.00 mm
針管外徑0.35 mm
DUT 接觸頭類型尖錐型 (B)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
彈力20 g ±20%
建議行程0.3 mm
全程行程0.4 mm
壽命循環200,000 次
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電流1A A
彈簧力35 g ±20%
直徑0.52 mm

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