IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
5.70 mm, IC Test Probes, 0.28 mm Diameter, 1A, DE1-028DF40-01B0
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IC 測試探針
DE1-028DF40-01B0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE1-028DF40-01B0
Double Active
長度
5.70mm
針管外徑
0.28mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4爪皇冠 (F)
彈力
28g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE1-028DF40-01B0 是一款 5.70mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.28mm，額定電流 1A，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度5.70 mm
針管外徑0.28 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力28 g ±20%
建議行程0.65 mm
全程行程1 mm
壽命循環200,000 次
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電流1A A
彈簧力20 g ±20%
直徑0.26 mm

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