IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
5.70 mm, IC Test Probes, 0.31 mm Diameter, DE1-031DF40-02A0
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IC 測試探針
DE1-031DF40-02A0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE1-031DF40-02A0
Double Active
長度
5.70mm
針管外徑
0.31mm
DUT 頭型
圓頭型 (D)
Load Board 頭型
4爪鋸齒 (P)
彈力
14g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE1-031DF40-02A0 是一款 5.70mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.31mm，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度5.70 mm
針管外徑0.31 mm
DUT 接觸頭類型圓頭型 (D)
LB 接觸頭類型4爪鋸齒 (P)
彈力14 g ±20%
建議行程0.8 mm
全程行程1 mm
壽命循環200,000 次
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彈簧力30 g ±20%
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