IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
2.85 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A, DE4-056EF20-01F0
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IC 測試探針
DE4-056EF20-01F0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE4-056EF20-01F0
Single Active
長度
2.85mm
針管外徑
0.56mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4爪皇冠 (F)
Load Board 頭型
鈍錐型 (E)
彈力
25g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE4-056EF20-01F0 是一款 2.85mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.56mm，額定電流 1A，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度2.85 mm
針管外徑0.56 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型鈍錐型 (E)
額定電流1A
彈力25 g ±20%
建議行程0.35 mm
全程行程0.55 mm
壽命循環200,000 次
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電流1A A
彈簧力45 g ±20%
直徑0.56 mm

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