2.85 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A, DE4-056EF20-01F0 - 中國探針股份有限公司

IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS

2.85 mm, IC Test Probes, 0.56 mm Diameter, 1A, DE4-056EF20-01F0

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IC 測試探針

IC 測試探針 · Testing Solutions

料號:DE4-056EF20-01F0

Single Active

長度

2.85mm

針管外徑

0.56mm

額定電流

1A

DUT 頭型

4爪皇冠 (F)

Load Board 頭型

鈍錐型 (E)

彈力

25g ±20%

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描述

DE4-056EF20-01F0 是一款 2.85mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.56mm，額定電流 1A，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。

Product Specifications

結構	Single Active
長度	2.85 mm
針管外徑	0.56 mm
DUT 接觸頭類型	4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型	鈍錐型 (E)
額定電流	1A
彈力	25 g ±20%
建議行程	0.35 mm
全程行程	0.55 mm
壽命循環	200,000 次