IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
4.60 mm, IC Test Probes, 0.26 mm Diameter, 1A, DE1-026EF31-01A0
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IC 測試探針
DE1-026EF31-01A0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE1-026EF31-01A0
Double Active
長度
4.60mm
針管外徑
0.26mm
額定電流
1A
DUT 頭型
鈍錐型 (E)
Load Board 頭型
4爪皇冠 (F)
彈力
20g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE1-026EF31-01A0 是一款 4.60mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.26mm，額定電流 1A，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度4.60 mm
針管外徑0.26 mm
DUT 接觸頭類型鈍錐型 (E)
LB 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力20 g ±20%
建議行程0.5 mm
全程行程0.8 mm
壽命循環200,000 次
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電流1A A
彈簧力12 g ±20%
直徑0.20 mm

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