テストソリューション

ICテストプローブは0.12mmの極小ピッチに対応し、80種類以上の設計により、各種半導体パッケージのテストニーズに対応します。

各種PCBテストに対応し、70種類の設計をご用意。標準品に加えてカスタム設計にも対応し、複雑なテストニーズにお応えします。

30種類以上の大電流バッテリーテストプローブをご用意し、各種バッテリータイプおよびテスト環境に対応する設計です。

最小ピッチ0.12mm。中国探針が独自開発したウエハーレベルテストソリューションは、最先端のパッケージングプロセスに対応します。

中国探針独自の特許技術による高周波テストソリューション。同軸プローブ設計と加圧導電ゴム治具を採用し、最大77GHzの周波数に対応します。

特許取得のプローブ設計により5Aを超える大電流に対応。高出力部品や電源ICの過酷なテスト環境に適しています。

中国探針はテスト治具の開発設計・製造を行い、単一部品から完全なシステムまで対応する終端テスト統合ソリューションをご提供します。

スプリングプローブタワーと角型ピンソケットにより高周波対応を実現。自動化テスト設備向けのカスタム接続ソリューションです。

最小ピッチ0.45mmに対応。中国探針は特殊プローブとテストモジュールをご提供し、各種ディスプレイパネルの精密テストニーズに対応します。