IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
7.80 mm, IC Test Probes, 0.38 mm Diameter, 1A, DE1-038FF50-03F0
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IC 測試探針
DE1-038FF50-03F0
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:DE1-038FF50-03F0
Double Active
長度
7.80mm
針管外徑
0.38mm
額定電流
1A
DUT 頭型
4爪皇冠 (F)
Load Board 頭型
4爪皇冠 (F)
彈力
22g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
DE1-038FF50-03F0 是一款 7.80mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.38mm，額定電流 1A，採用 Double Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Double Active
長度7.80 mm
針管外徑0.38 mm
DUT 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
LB 接觸頭類型4爪皇冠 (F)
額定電流1A
彈力22 g ±20%
建議行程1 mm
全程行程1.2 mm
壽命循環200,000 次
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彈簧力30 g ±20%
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