IC 測試探針 · TESTING SOLUTIONS
18.93 mm, IC Test Probes, 0.75 mm Diameter, 3A, CM-M2-075-20147
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IC 測試探針
CM-M2-075-20147
IC 測試探針 · Testing Solutions
料號:CM-M2-075-20147
Single Active
長度
18.93mm
針管外徑
0.75mm
額定電流
3A
DUT 頭型
Cup(A)
彈力
150g ±20%
下載 2D Drawing 下載 3D CAD 詢問報價
描述
CM-M2-075-20147 是一款 18.93mm 長的 IC 測試探針，針管外徑 0.75mm，額定電流 3A，採用 Single Active 結構，適用於半導體 IC 測試應用。
Product Specifications
結構Single Active
長度18.93 mm
針管外徑0.75 mm
接觸頭類型Cup(A)
額定電流3A
尖端材料BeCu
尖端鍍層Gold
針管基材PhBz
針管鍍層Gold
彈簧基材SWP
彈簧鍍層Gold
全程行程2 mm
建議行程1 mm
彈簧力150 gf
壽命循環100,000 次
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電流1A A
彈簧力20 g ±20%
直徑0.26 mm

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