C.C.P. China Contact Probes cung cấp giải pháp kiểm thử toàn diện, Từ siêu mảnh IC đầu dò, Kiểm thử lão hóa, Từ kiểm thử đóng gói cấp wafer đến PCB Đầu dò kiểm thử,
Foxconn, Intel, Skyworks và SPIL Các nhà lãnh đạo ngành bán dẫn đều là khách hàng của chúng tôi.
China Contact Probes đã gắn bó sâu sắc với lĩnh vực đầu dò kiểm thử bán dẫn hơn 30 năm, Có từ 0.07mm siêu mảnh IC Dòng sản phẩm hoàn chỉnh từ đầu dò đến giải pháp kiểm thử dòng điện lớn. Kỹ sư của chúng tôi hợp tác chặt chẽ với khách hàng, Cung cấp hai lựa chọn: tiêu chuẩn hóa và tùy chỉnh hoàn toàn, Giúp giải pháp kiểm thử đáp ứng chính xác nhu cầu của bạn.
Khách hàng phục vụ bao gồm: Foxconn・Intel・Skyworks・SPIL và các nhà lãnh đạo ngành bán dẫn khác
Group A · IC Testing
IC Đầu dò kiểm thử có thể áp dụng cho 0.12mm khoảng cách siêu nhỏ, cung cấp 80 hơn kiểu thiết kế, Đáp ứng nhu cầu kiểm thử đóng gói bán dẫn đa dạng.
80+kiểu thiết kế
0.12mmKhoảng cách tối thiểu
Group B · PCB Testing
Phù hợp với nhiều loại PCB kiểm thử, có 70 kiểu thiết kế, Ngoài sản phẩm tiêu chuẩn hóa còn cung cấp thiết kế tùy chỉnh, Đáp ứng nhu cầu kiểm thử phức tạp.
70+kiểu thiết kế
tùy chỉnhcó thể chấp nhận
Battery Testing
cung cấp 30 hơn nhiều loại đầu dò kiểm thử pin dòng điện lớn với các quy cách khác nhau, Thiết kế cho nhiều loại pin và môi trường kiểm thử khác nhau.
30+kiểu thiết kế
dòng điện lớnthiết kế
WLCSP Testing
Khoảng cách tối thiểu 0.12mm, China Contact Probes nghiên cứu phát triển giải pháp kiểm thử cấp wafer độc quyền, Phù hợp với quy trình đóng gói tiên tiến nhất.
0.12mmKhoảng cách tối thiểu
RF / High-Frequency
Giải pháp kiểm thử tần số cao được cấp bằng sáng chế của China Contact Probes, Sử dụng thiết kế đầu dò đồng trục và đồ gá cao su dẫn điện có áp lực, Hỗ trợ tần số lên đến 77 GHz.
≤ 77 GHzTần số tối đa
bằng sáng chếthiết kế
High Current IC
Thiết kế đầu dò được cấp bằng sáng chế có thể chịu tải hơn 5A dòng điện cực cao, Phù hợp với linh kiện công suất cao và nguồn điện IC môi trường kiểm thử khắc nghiệt.
> 5ADòng điện định mức
bằng sáng chếthiết kế
Burn-In Testing
Đồ gá kiểm thử lão hóa tùy chỉnh, Có thể chịu được đến 180°C nhiệt độ khắc nghiệt, Phù hợp với nhiều loại IC Xác minh tuổi thọ linh kiện.
≤ 180°CNhiệt độ hoạt động
tùy chỉnhđồ gá
Memory Testing
nhắm đến RAM, DDR, Bộ nhớ flash và các loại chip bộ nhớ khác, Cung cấp giải pháp kiểm thử tiêu chuẩn hóa và tùy chỉnh.
DDR / RAM
FlashMemory
Kelvin Contact
Được thiết kế riêng cho kiểm thử điện trở thấp chính xác, cung cấp 0.07–0.1mm đầu dò, Nhiều loại tiên tiến để lựa chọn, Đảm bảo độ chính xác đo lường.
0.07mmKhoảng cách tối thiểu
điện trở thấpkiểm thử
Fine Pitch Connector
gốm sứ / Đồ gá bằng nhôm, Khoảng cách tối thiểu có thể đạt 0.3mm, Tuổi thọ sử dụng lên đến 30,000 chu kỳ, Bền và đáng tin cậy.
≤ 0.3mmKhoảng cách tối thiểu
30,000lần tuổi thọ
General Final Test
China Contact Probes nghiên cứu, thiết kế và sản xuất đồ gá kiểm thử, Cung cấp giải pháp kiểm thử tích hợp cuối dây chuyền từ linh kiện đơn lẻ đến hệ thống hoàn chỉnh.
ATE Connection
Tháp đầu dò lò xo và bốn góc PIN đế chốt, Có chức năng tần số cao, Giải pháp kết nối tùy chỉnh cho thiết bị kiểm thử tự động.
Panel Testing
Khoảng cách tối thiểu 0.45mm, China Contact Probes cung cấp đầu dò đặc biệt và mô-đun kiểm thử, Phù hợp với nhu cầu kiểm thử chính xác cho nhiều loại màn hình hiển thị.
0.45mmKhoảng cách tối thiểu
Pogo Pin Connectors
chốt đơn・nhiều chốt・chống nước・từ tính
Female Connectors
Chốt đơn gia công tiện・chống nước・tùy chỉnh
High Current Connectors
Ứng dụng truyền dòng điện lớn
DAC Network Cables
SFP・QSFP・OCuLink
Magnesium Alloy
đúc áp lực・đùn ép・Chống ăn mòn, dẫn nhiệt cao
C.C.P. Cung cấp nhiều loại đồ gá kiểm thử và đầu dò. Bạn có yêu cầu đặc biệt hoặc cần thiết kế hoàn toàn mới??
Đội ngũ kỹ sư chuyên nghiệp của chúng tôi luôn sẵn sàng đón nhận thử thách từ bạn, vượt quá 20,000 loại lựa chọn đầu nối và giải pháp tùy chỉnh.
